Les matériaux polymères trouvent de plus en plus leur place dans les dispositifs micro et nanotechnologiques, que ce soit pour des produits déjà industrialisés (écrans plats à diodes électroluminescentes organiques) ou en cours de développements (transistors organiques, papier électronique…). Il est désormais possible d'analyser ces matériaux par ToF-SIMS (Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) en obtenant une information moléculaire représentative, y compris dans le cas de multicouches nanométriques. Cependant la contribution d'une grandeur fondamentale des chaines polymériques, la masse moléculaire MW, n'a pas encore été évaluée sur la qualité de ces caractérisations. L'objectif du travail est d'évaluer le poids de ce paramètre pour différents types de films minces préparés au laboratoire. Outre les caractérisations par ToF-SIMS, l'évolution de la rugosité des films sous faisceau d'ions, essentielle pour apprécier la résolution en profondeur des caractérisations, sera étudiée par microscopie à force atomique (AFM). Ce sujet, en relation directe avec des préoccupations industrielles, s'adresse à un étudiant physico-chimiste motivé par l'expérimentation et le travail en équipe. Le stage offre l'opportunité de travailler sur un instrument incontournable pour l'étude chimique des surfaces et des matériaux, au sein d'un environnement technologique motivant et performant.