"La complexité croissante des circuits intégrés nécessite l´usage de microscopes électroniques à transmission (TEM pour transmission electron microscope) de dernière génération permettant une caractérisation structurale, morphologique et chimique à l´échelle nanométrique. Très récemment, des progrès en instrumentation ont permis l'essor de la tomographie analytique, une technique 3D qui est basée sur des modes de spectroscopie tels que la perte d'énergie des électrons (EELS : electron energy loss spectroscopy) ou l'analyse dispersive en énergie (EDX : energy dispersive X-ray spectroscopy). Une acquisition simultanée de ces deux signaux est possible sur les TEM dédiés, permettant ainsi une étude plus complète des échantillons. La tomographie analytique nécessite l'acquisition d'un cube de données hyperspectrales à chaque inclinaison. Ceci implique des temps d'acquisition assez longs, et des doses d'irradiation élevées. Le but de ce stage est de tester de nouveaux algorithmes afin de trouver un compromis entre (1) la dose et le temps d'acquisition, et (2) la fidélité de la reconstruction. Dans un premier temps, l'étudiant comparera différentes techniques de débruitage spectral et spatial telles que la PCA (Principal Component Analysis) et NL-Means (Non-local Means). Il s'intéressera ensuite à la comparaison de nouveaux algorithmes de reconstruction basés sur le concept de `compressed sensing' et permettant d'assurer la fidélité de la reconstruction en utilisant des connaissances a priori sur la structure de l'échantillon.En parallèle, l'étudiant sera formé sur le TEM et assistera à l'acquisition de données tomographiques sur des échantillons fournis par des collaborateurs du LETI.Le stage se déroulera sur la plateforme de nanocaractérisation de MINATEC (PFNC) de Grenoble, sous la tutelle de Zineb SAGHI (http://www-hrem.msm.cam.ac.uk/people/saghi/, https://scholar.google.com/citations?user=FM5sFZ4AAAAJ&hl=en). "